Overview/Background

  • 각종 반도체 특성 평가를 위한 자동화 시스템

Description

  • ADC Test
  • Driver IC Test
  • Valve Control Test
  • CAN Communications Test
  • SPI Communications Test
  • 그 외 다수 시험 항목 구현(약 100여개)

Results

  • 시험 자동화를 통한 개발 품질 검증 프로세스 간소화
  • Test Developer와 Operator 업무 분리 및 효율성 제고
  • Test Developer : 테스트 시나리오 작성 및 개발
  • Operator : 시나리오 파일 실행으로 쉽게 시험 가능
  • 시험 결과 통계 자료 구축(히스토그램 자동 생성)

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