Overview/Background
- 각종 반도체 특성 평가를 위한 자동화 시스템
Description
- ADC Test
- Driver IC Test
- Valve Control Test
- CAN Communications Test
- SPI Communications Test
- 그 외 다수 시험 항목 구현(약 100여개)
Results
- 시험 자동화를 통한 개발 품질 검증 프로세스 간소화
- Test Developer와 Operator 업무 분리 및 효율성 제고
- Test Developer : 테스트 시나리오 작성 및 개발
- Operator : 시나리오 파일 실행으로 쉽게 시험 가능
- 시험 결과 통계 자료 구축(히스토그램 자동 생성)
